详细描述四探针测试仪的能和特点

更新时间：2020-06-22

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　　四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。该仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。

　　适用范围：

　　1、覆盖膜；导电分子膜，、低温电热膜；隔热、防辐射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸；金属化标签、合金类箔膜；熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜；电涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。

　　2、硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜。

　　3、EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜。

　　4、抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等。

　　四探针测试仪的能描述：

　　1、四探针单电测量方法；

　　2、液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿；

　　3、集成电路系统、恒流输出；

　　4、选配：PC软件行数据管理和处理；

　　5、提供中文或英文两种语言操作界面选择。

　　设备特点：

　　1、可以测量温、真空、气氛下薄膜方块电阻和薄层电阻率；

　　2、软件、触摸屏、温炉等集成于体，可以行可视化操作；

　　3、可实现纯净气氛条件下的测量；同时保证探针在温下不氧化；

　　4、采用labview软件开发，操控性、兼容性好、方便升级；

　　5、可自动调节样品测试电压，探针和薄膜接触闪络现象；

　　6、控温和测温采用同个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度；

　　7、可配套使用Keithley2400或2600数字多用表。

上一条四探针测试仪可以应用在以下这些行业中
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